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LAP-W2000H濕法全自動激光粒度分析儀
產品分類
激光粒度儀
LAP-W2000H是我公司傾力研發的新產品,自上市以來贏得了廣大客戶的一致好評。LAP-W2000H采用先進的Mie氏散射原理和會聚光傅立葉變換光路。
訂購熱線:15220371918
LAP-W2000H是我公司傾(qing)力研發的新產(chan)品,自(zi)上(shang)市(shi)以來贏得了廣大(da)客戶的一致好(hao)評(ping)。LAP-W2000H采用(yong)先進的Mie氏散射(she)原理和會(hui)聚光傅立(li)葉(xie)變換(huan)光路。高密度(du)探(tan)頭及全量程(cheng)無(wu)縫銜接測試(shi)方(fang)法,保(bao)(bao)證了測試(shi)結(jie)果的準確(que)性和重復性。獨特的濕法循環分散系統,保(bao)(bao)證顆(ke)粒測試(shi)過程(cheng)中無(wu)顆(ke)粒沉積現象,測試(shi)排(pai)水后(hou)無(wu)廢液積存現象,保(bao)(bao)證了第二次測試(shi)精度(du),使測試(shi)結(jie)果更真(zhen)實可靠;同時采取了管道無(wu)殘留設計(ji),保(bao)(bao)證了測試(shi)不同樣品的準確(que)性。優越的光路自(zi)動校對系統彰(zhang)顯出LAP-W2000H獨特優勢。
智能型激光粒度分析儀控制系統原理圖:
LAP-W2000H激光粒度分析儀主要性能特點:
★先進的光路設計:LAP-W2000H采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程,有效提高儀器的分辨能力;獨特的高密度探測單元,讓LAP-W2000H擁有了超強的小顆粒測試能力,高密度探測單元使LAP-W2000H具有超強的全量程無縫測試能力,高配版采用了雙光路設計。
★防塵、防震設計:儀器整體進行了密封設計,大幅提高了內部元器件使用壽命。獨特的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾,使結果測試更穩定可靠。
★雙光路雙激光器:LAP-W2000H高配版采用了雙光路多鏡頭設計,主光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器,輔光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器(λ=635nm, p>5mW)。
★自動對中:獨家采用機械中心與光學中心相結合技術,光路自動調整定位更精確,達到微米級別;同時光路調整速度個更快捷15秒即可完成調整。自行研制的自動對中系統包括步進電機、精密導軌、精密控制器以及軟件系統組成,較小步距0.2微米,保證激光束焦點始終從探測器中心點穿過,提高測試結果的準確性以及測試的重復性。自動對中系統是耐克特所有型號激光粒度儀的標準配置。
★獨特微量循環系統:整個分散循環系統進行了優化設計,分散介質大于180毫升即可循環測試,真正達到了微量循環測試;所有接頭采用了速插快擰設計,短時間內即可更換全部管道;優化的設計保證排水后無廢夜殘留,保證了下一次測試結果的準確性。
★超寬量程:LAP-W2000H量程達到了0.01μm~2000μm。
★超聲防干燒:LAP-W2000H配備了100W大功率超聲,同時具有超聲防干燒功能。
★誤操作保護:LAP-W2000H具有自我保護功能,對一些會損害儀器的誤操作不響應,大大降低了因人為誤操作造成的損壞。
★露點測量:樣品窗結霧會影響測量的準確性,這樣的測試結果沒有實際意義,LAP-W2000H加裝了有霧點測量系統,一旦起霧軟件會自動提示。
★免排氣泡設計:全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗,避免了氣泡干擾(免排氣泡功能技術我們獨家擁有)。
★樣品無殘留設計:儀器管道及排水結構進行了優化設計,儀器管道、循環泵內無積液殘留,避免對下一次測試數據的影響;干法測試同樣進行了無殘留設計。
★樣品窗快換裝置:全新設計的樣品窗快換裝置,使樣品窗更換更方便快捷(20秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過程)。
軟件:符合藥典GMP規定,具有電子簽名、權限設置、數據追蹤、數據不可更改等功能。對于制藥行業客戶,可以提供3Q認證。穩定性及重復性達到國外馬爾文儀器標準
測試界面
光路自動對中功能圖
主要技術參數:
測試報告:
智能型激光粒度分析儀控制系統原理圖:
LAP-W2000H激光粒度分析儀主要性能特點:
★先進的光路設計:LAP-W2000H采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程,有效提高儀器的分辨能力;獨特的高密度探測單元,讓LAP-W2000H擁有了超強的小顆粒測試能力,高密度探測單元使LAP-W2000H具有超強的全量程無縫測試能力,高配版采用了雙光路設計。
★防塵、防震設計:儀器整體進行了密封設計,大幅提高了內部元器件使用壽命。獨特的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾,使結果測試更穩定可靠。
★雙光路雙激光器:LAP-W2000H高配版采用了雙光路多鏡頭設計,主光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器,輔光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器(λ=635nm, p>5mW)。
★自動對中:獨家采用機械中心與光學中心相結合技術,光路自動調整定位更精確,達到微米級別;同時光路調整速度個更快捷15秒即可完成調整。自行研制的自動對中系統包括步進電機、精密導軌、精密控制器以及軟件系統組成,較小步距0.2微米,保證激光束焦點始終從探測器中心點穿過,提高測試結果的準確性以及測試的重復性。自動對中系統是耐克特所有型號激光粒度儀的標準配置。
★獨特微量循環系統:整個分散循環系統進行了優化設計,分散介質大于180毫升即可循環測試,真正達到了微量循環測試;所有接頭采用了速插快擰設計,短時間內即可更換全部管道;優化的設計保證排水后無廢夜殘留,保證了下一次測試結果的準確性。
★超寬量程:LAP-W2000H量程達到了0.01μm~2000μm。
★超聲防干燒:LAP-W2000H配備了100W大功率超聲,同時具有超聲防干燒功能。
★誤操作保護:LAP-W2000H具有自我保護功能,對一些會損害儀器的誤操作不響應,大大降低了因人為誤操作造成的損壞。
★露點測量:樣品窗結霧會影響測量的準確性,這樣的測試結果沒有實際意義,LAP-W2000H加裝了有霧點測量系統,一旦起霧軟件會自動提示。
★免排氣泡設計:全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗,避免了氣泡干擾(免排氣泡功能技術我們獨家擁有)。
★樣品無殘留設計:儀器管道及排水結構進行了優化設計,儀器管道、循環泵內無積液殘留,避免對下一次測試數據的影響;干法測試同樣進行了無殘留設計。
★樣品窗快換裝置:全新設計的樣品窗快換裝置,使樣品窗更換更方便快捷(20秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過程)。
軟件:符合藥典GMP規定,具有電子簽名、權限設置、數據追蹤、數據不可更改等功能。對于制藥行業客戶,可以提供3Q認證。穩定性及重復性達到國外馬爾文儀器標準
測試界面
光路自動對中功能圖
主要技術參數:
規格型號 | LAP-W2000H | |
執行標準 | ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008 | |
測試范圍 | 0.01μm -2000μm | |
探測器通道數 | 121 | |
準確性誤差 | <0.5%(國(guo)家標準樣品D50值) | |
重復性誤差 | <0.5%(國家標準樣品D50值) | |
免排氣泡 | 具備免排(pai)氣泡(pao)設計,無氣泡(pao)干(gan)擾數據更準確(que) | |
誤操作保護 | 儀器具備誤操(cao)作自(zi)我保護功能(neng),儀器對誤操(cao)作不響應 | |
鏡頭 | 進口佳能(neng)鏡頭 | |
激光器參數 | 雙光束,進口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW | |
光路校準 | 光路實現自動校(xiao)準 | |
智能操作模式 | 軟(ruan)件一鍵式全自動操作 | |
防塵、防震設計 | 整機采(cai)用(yong)防(fang)塵、防(fang)震設(she)計 | |
內置分散方法 | 超聲 | 頻率:f=40KHz,功率:p=80W,時間:隨意(yi)可(ke)調;具備超聲防干燒(shao) |
攪拌 | 循環攪拌一體化設計,轉速:100-33950rpm轉速可調 | |
循環 | 循環(huan)額(e)定流量:0-10L/min可調 額(e)定功率:25W | |
樣品池 | 自行設(she)計沸騰式樣品(pin)池,分散(san)效果更(geng)好,容量:190-600mL均可正常(chang)測(ce)試 | |
微量進樣 | 儀(yi)器可(ke)選(xuan)配微量(liang)全自動測試裝置,10毫升即(ji)可(ke)循(xun)環測試(選(xuan)配) | |
遮光度探測 | 儀器具備獨有(you)的遮光度(du)實時探測功能,保證樣品(pin)加(jia)入(ru)量更(geng)準確 | |
防腐設計(選配) | 可以配備耐酸、耐堿、耐油(含(han)一切(qie)溶(rong)(rong)劑(ji)油)、耐有機(ji)溶(rong)(rong)劑(ji)(像丙酮、苯(ben)酚、正己烷、異丙醇(chun)等一切(qie)有機(ji)溶(rong)(rong)劑(ji))。 | |
測試速度 | <1min/次(ci)(不含(han)樣品(pin)分散時(shi)間) | |
體積 | 980mm*410mm*450mm | |
重量 | 35Kg |
軟件功能 | |
測試報告 | 測(ce)試(shi)(shi)報(bao)告可導(dao)出Word、Excel、圖片(pian)(Bmp)和文本(Text)等多(duo)種形式的文檔,滿足(zu)在任何場合下查看(kan)測(ce)試(shi)(shi)報(bao)告以及科研文章中引用測(ce)試(shi)(shi)結果 |
自行DIY | 用戶自定義要顯示的數據(ju),根(gen)(gen)據(ju)粒(li)徑求百分(fen)比(bi)、根(gen)(gen)據(ju)百分(fen)比(bi)求粒(li)徑或根(gen)(gen)據(ju) |
統計方式 | 體積分(fen)布(bu)(bu)和數量分(fen)布(bu)(bu),以滿足不同行(xing)業對于粒度分(fen)布(bu)(bu)的不同統(tong)計方式 |
統計比較 | 可針對多條測試結果進行統計比較分析,可明顯對比不同(tong)批次(ci)樣品(pin)、加工(gong)(gong)前后樣品(pin)以及(ji)不同(tong)時間測試結果的差(cha)異,對工(gong)(gong)業原料質量(liang)控制具有很強的實際意義 |
分析模式 | 包括(kuo)自由分(fen)(fen)布、R-R分(fen)(fen)布和(he)對數正態分(fen)(fen)布、按(an)目(mu)分(fen)(fen)級統計模式(shi)等,滿足(zu)不(bu)同(tong)行業對被測樣品粒度統計方式(shi)的(de)不(bu)同(tong)要(yao)求 |
顯示模板 | 粒(li)徑區間(jian)求百分(fen)比(bi),以滿足不同(tong)行(xing)業對粒(li)度測(ce)試的表征方式。徑距、一致性、區間(jian)累積等等 |
智能操作模式 | 真正全自動無人(ren)干預操作,無人(ren)為(wei)因素干擾,您只需按提示加(jia)入待測樣品即可,測試結果的(de)重(zhong)復(fu)性(xing)更(geng)好。 |
多語言支持 | 中英文(wen)語(yu)(yu)言界(jie)(jie)面支持,還可根據用戶要(yao)求嵌(qian)入(ru)其他語(yu)(yu)言界(jie)(jie)面。 |
測試報告: