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全國咨詢熱線：15220371918
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LAP-W1250H智能全自動濕法激光粒度分析儀
產品分類
激光粒度儀
LAP-W1250H是我公司傾力研發的新產品，自上市以來贏得了廣大客戶的一致好評。LAP-W1250H采用先進的Mie氏散射原理和會聚光傅立葉變換光路。
訂購熱線：15220371918
LAP-W1250H是(shi)我公司傾(qing)力(li)研(yan)發的(de)新(xin)產品，自上市以來贏得了(le)(le)廣(guang)大(da)客戶的(de)一致好評。LAP-W1250H采用先進的(de)Mie氏散射原理(li)和會聚光傅立(li)葉變(bian)換光路。高密度(du)探頭(tou)及(ji)全量程(cheng)無(wu)縫(feng)銜接測試(shi)(shi)方法(fa)，保證(zheng)了(le)(le)測試(shi)(shi)結果的(de)準確(que)性(xing)和重(zhong)復性(xing)。獨特的(de)濕法(fa)循環(huan)分散系統(tong)，保證(zheng)顆粒測試(shi)(shi)過程(cheng)中無(wu)顆粒沉(chen)積現(xian)象，測試(shi)(shi)排水(shui)后無(wu)廢液積存現(xian)象，保證(zheng)了(le)(le)第二次測試(shi)(shi)精(jing)度(du)，使(shi)測試(shi)(shi)結果更真實可靠(kao)；同(tong)(tong)時采取了(le)(le)管道無(wu)殘留設計，保證(zheng)了(le)(le)測試(shi)(shi)不同(tong)(tong)樣品的(de)準確(que)性(xing)。優越的(de)光路自動校對(dui)系統(tong)彰顯出LAP-W1250H獨特優勢。
智能型激光粒度分析儀控制系統原理圖：
LAP-W1250H激光粒度分析儀主要性能特點：
★先進的光路設計：LAP-W1250H采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；獨特的高密度探測單元，讓LAP-W1250H擁有了超強的小顆粒測試能力，高密度探測單元使LAP-W1250H具有超強的全量程無縫測試能力，高配版采用了雙光路設計。
★防塵、防震設計：儀器整體進行了密封設計，大幅提高了內部元器件使用壽命。獨特的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結果測試更穩定可靠。
★雙光路雙激光器：LAP-W1250H高配版采用了雙光路多鏡頭設計，主光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器，輔光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器（λ=635nm, p>5mW）。
★光路X、Y向自動校對：LAP-W1250H獨家采用機械中心與光學中心相結合技術，光路自動調整定位更精確，達到微米級別；同時光路調整速度個更快捷15秒即可完成調整。
★獨特微量循環系統：整個分散循環系統進行了優化設計，分散介質大于180毫升即可循環測試，真正達到了微量循環測試；所有接頭采用了速插快擰設計，短時間內即可更換全部管道；優化的設計保證排水后無廢夜殘留，保證了下一次測試結果的準確性。
★超寬量程：LAP-W1250H量程達到了0.01μm～1250μm。
★超聲防干燒：LAP-W1250H配備了100W大功率超聲，同時具有超聲防干燒功能。
★誤操作保護：LAP-W1250H具有自我保護功能，對一些會損害儀器的誤操作不響應，大大降低了因人為誤操作造成的損壞。
★露點測量：樣品窗結霧會影響測量的準確性，這樣的測試結果沒有實際意義，LAP-W1250H加裝了有霧點測量系統，一旦起霧軟件會自動提示。
★免排氣泡設計：全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡干擾（免排氣泡功能技術我們獨家擁有）。
★樣品無殘留設計：儀器管道及排水結構進行了優化設計，儀器管道、循環泵內無積液殘留，避免對下一次測試數據的影響；干法測試同樣進行了無殘留設計。
★樣品窗快換裝置：全新設計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷（20秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過程）。
測試界面
光路自動對中功能圖
穩定性及重復性達到國外馬爾文儀器標準
主要技術參數：
測試報告：
智能型激光粒度分析儀控制系統原理圖：
LAP-W1250H激光粒度分析儀主要性能特點：
★先進的光路設計：LAP-W1250H采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；獨特的高密度探測單元，讓LAP-W1250H擁有了超強的小顆粒測試能力，高密度探測單元使LAP-W1250H具有超強的全量程無縫測試能力，高配版采用了雙光路設計。
★防塵、防震設計：儀器整體進行了密封設計，大幅提高了內部元器件使用壽命。獨特的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結果測試更穩定可靠。
★雙光路雙激光器：LAP-W1250H高配版采用了雙光路多鏡頭設計，主光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器，輔光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器（λ=635nm, p>5mW）。
★光路X、Y向自動校對：LAP-W1250H獨家采用機械中心與光學中心相結合技術，光路自動調整定位更精確，達到微米級別；同時光路調整速度個更快捷15秒即可完成調整。
★獨特微量循環系統：整個分散循環系統進行了優化設計，分散介質大于180毫升即可循環測試，真正達到了微量循環測試；所有接頭采用了速插快擰設計，短時間內即可更換全部管道；優化的設計保證排水后無廢夜殘留，保證了下一次測試結果的準確性。
★超寬量程：LAP-W1250H量程達到了0.01μm～1250μm。
★超聲防干燒：LAP-W1250H配備了100W大功率超聲，同時具有超聲防干燒功能。
★誤操作保護：LAP-W1250H具有自我保護功能，對一些會損害儀器的誤操作不響應，大大降低了因人為誤操作造成的損壞。
★露點測量：樣品窗結霧會影響測量的準確性，這樣的測試結果沒有實際意義，LAP-W1250H加裝了有霧點測量系統，一旦起霧軟件會自動提示。
★免排氣泡設計：全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡干擾（免排氣泡功能技術我們獨家擁有）。
★樣品無殘留設計：儀器管道及排水結構進行了優化設計，儀器管道、循環泵內無積液殘留，避免對下一次測試數據的影響；干法測試同樣進行了無殘留設計。
★樣品窗快換裝置：全新設計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷（20秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過程）。
測試界面
光路自動對中功能圖
穩定性及重復性達到國外馬爾文儀器標準
主要技術參數：
| 規格型號 | LAP-W1250H | |
| 執行標準 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |
| 測試范圍 | 0.01μm -1250μm | |
| 探測器通道數 | 112 | |
| 準確性誤差 | <1%（國家標準(zhun)樣品D50值） | |
| 重復性誤差 | <0.5%（國家標準樣品D50值(zhi)） | |
| 免排氣泡 | 具備(bei)免排氣泡設(she)計，無氣泡干(gan)擾數據更準(zhun)確 | |
| 誤操作保護 | 儀器(qi)(qi)具(ju)備(bei)誤(wu)操作(zuo)自我保護功能，儀器(qi)(qi)對誤(wu)操作(zuo)不響(xiang)應 | |
| 鏡頭 | 進口佳能鏡頭 | |
| 激光器參數 | 雙光束，進口(kou)光纖(xian)輸(shu)出(chu)大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW | |
| 光路校準 | 光路實現(xian)自動校準 | |
| 智能操作模式 | 軟件一鍵式全自動操作 | |
| 內置分散方法 | 超聲 | 頻率：f=40KHz,功率：p=80W,時間：隨意可調;具備超(chao)聲防干燒(shao) |
| 攪拌 | 循(xun)環攪拌一體化設計，轉速：100-33950rpm轉速可調 | |
| 循環 | 循(xun)環(huan)額定(ding)流量：0-10L/min可調 額定(ding)功率：25W | |
| 樣品池 | 自行設計沸騰式樣品池，分散效(xiao)果(guo)更好，容量：190-600mL均(jun)可正(zheng)常測試 | |
| 微量進樣 | 儀器可選(xuan)配微量全自動測(ce)試裝置,10毫(hao)升即可循環測(ce)試（選(xuan)配） | |
| 遮光度探測 | 儀器具(ju)備獨有(you)的遮光度實時探測功能，保(bao)證(zheng)樣品加入量更(geng)準確 | |
| 防塵、防震設計 | 整(zheng)機采(cai)用防塵、防震設計 | |
| 防腐設計（選配） | 可以配備耐(nai)酸、耐(nai)堿(jian)、耐(nai)油（含(han)一切(qie)溶(rong)劑(ji)油）、耐(nai)有機(ji)溶(rong)劑(ji)（像丙酮(tong)、苯(ben)酚、正己烷(wan)、異丙醇(chun)等一切(qie)有機(ji)溶(rong)劑(ji)）。 | |
| 測試速度 | <1min/次（不含樣(yang)品分(fen)散(san)時(shi)間） | |
| 體積 | 980mm*410mm*450mm | |
| 重量 | 35Kg | |
| 軟件功能 | |
| 測試報告 | 測(ce)試報告可(ke)導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿(man)足在任何場合下查(cha)看測(ce)試報告以及科研文章中(zhong)引用測(ce)試結(jie)果(guo) |
| 自行DIY | 用戶(hu)自定義要顯示(shi)的(de)數據(ju)，根(gen)據(ju)粒(li)徑求百分(fen)(fen)比、根(gen)據(ju)百分(fen)(fen)比求粒(li)徑或根(gen)據(ju) |
| 統計方式 | 體積分(fen)(fen)布(bu)和數量(liang)分(fen)(fen)布(bu)，以(yi)滿足不同行業對于粒度分(fen)(fen)布(bu)的不同統計方(fang)式 |
| 統計比較 | 可(ke)針對(dui)多條測(ce)試(shi)結果(guo)進行統計比(bi)較分(fen)析，可(ke)明顯對(dui)比(bi)不(bu)(bu)同(tong)批(pi)次樣品、加工前后(hou)樣品以(yi)及(ji)不(bu)(bu)同(tong)時間測(ce)試(shi)結果(guo)的(de)差異，對(dui)工業原料質量控制具有(you)很強的(de)實(shi)際(ji)意(yi)義 |
| 分析模式 | 包括自(zi)由分布(bu)、R-R分布(bu)和對(dui)(dui)數正(zheng)態分布(bu)、按目分級統計模式等，滿足不同(tong)行(xing)業(ye)對(dui)(dui)被(bei)測樣品(pin)粒度統計方式的不同(tong)要求(qiu) |
| 顯示模板 | 粒徑區間(jian)求(qiu)百(bai)分比，以(yi)滿(man)足(zu)不同行業對粒度測試的表征(zheng)方式。徑距(ju)、一致性、區間(jian)累積等等 |
| 智能操作模式 | 真(zhen)正全(quan)自(zi)動無人干(gan)預操作(zuo)，無人為因素(su)干(gan)擾，您只需按(an)提示加入待(dai)測樣品即可(ke)，測試結果的重復性更好(hao)。 |
| 多語言支持 | 中英(ying)文語言界面支持，還可根據用戶要求嵌入其他語言界面。 |
測試報告：