橡塑檢測類儀器設備 >
水分檢測類儀器設備 >
密度檢測類儀器設備 >
環境試驗類儀器設備 >
力學檢測類儀器設備 >
粉末檢測類儀器設備 >
紙類檢測類儀器設備 >
耐磨檢測類儀器設備 >
油品檢測類儀器設備 >
紡織檢測類儀器設備 >
電子檢測類儀器設備 >
燃燒試驗類儀器設備 >
其他檢測類儀器設備 >
聯系昆山鷺工
紫(zi)外(wai)線滅菌爐_口罩氣流阻力測試(shi)儀_水分測定(ding)儀_微量水分測定(ding)儀_高低溫試(shi)驗(yan)箱_昆山鷺工精密儀器有(you)限公司
全國咨詢熱線(xian):15220371918
公司傳真(zhen):0512-36859298
企業地址(zhi):昆(kun)山的(de)地址是江(jiang)蘇(su)省昆(kun)山市周(zhou)市鎮黃(huang)浦江(jiang)北路333號
LAP-S800噴霧全自動激光粒度分析儀
產品分類
激光粒度儀
我公司視打造國產穩定的激光粒度儀器為己任,以科技創品牌、質量闖市場、信譽贏天下為方針,全力打造超穩定、高性價比的國產激光粒度儀器。
訂購熱(re)線:15220371918
我公司視“打造國產穩定的激光粒度儀器”為己任,以科技創品牌、質量闖市場、信譽贏天下為方針,全力打造超穩定、高性價比的國產激光粒度儀器。
LAP-S800采用分體式設計,適用范圍更加寬泛。性能更加穩定、量程更大、適應各種復雜的測試環境,同時LAP-S800進行了防塵處理。
LAP-S800噴霧激光粒度分析儀主要性能特點:
LAP-S800采用了分體式結構,可測試遠距離樣品, LAP-S800采用了大平臺,即使一體式使用也能滿足0.1米到10米的距離上正常測試。
先進的光路設計:
LAP-S800采用了夫瑯禾費衍射原理和典型的平行光路設計,配備了大功率的半導體激光器;獨特的高密度探測單元,讓LAP-S800擁有了超強的小顆粒測試能力,LAP-S800在0.1μm~800μm內無縫測試。同時LAP-S800又加入了光路自動調整裝置,方便操作的同時又延長了儀器的適用壽命。
大功率半導體激光器:
LAP-S800采用了大功率的半導體激光器,增強了儀器的分辨能力,使小顆粒也無處藏身。
光路自動校對:
LAP-S800在噴霧粒度儀中加入了自動對中功能,LAP-S800加入的光路自動調整系統,保證了儀器測量的穩定性、準確性。同時大量減少操作者的工作強度。
進口鏡頭:
LAP-S800采用了日本佳能作為主鏡頭,畸變小成像高,接收端采用了直徑150毫米大口徑長焦距鏡頭,顆粒探測更加精準。
超寬量程:
LAP-S800量程達到了0.1μm~800μm。
輔光定位:
LAP-S800獨創加入了輔光定位功能,定位時發射端兩束激光同時發出,接收端雙點吻合后接收端即可啟動光路自動調整系統,大大簡化了調整難度。
強大的分析軟件:
強大的分析軟件可以隨時記錄所有激光束的內所有霧滴的粒度分布。在激光束內移動噴霧測試結果可以被連續記錄和統計分析。
LAP-S800
主要技術參數:
測試報告:
LAP-S800采用分體式設計,適用范圍更加寬泛。性能更加穩定、量程更大、適應各種復雜的測試環境,同時LAP-S800進行了防塵處理。
LAP-S800噴霧激光粒度分析儀主要性能特點:
LAP-S800采用了分體式結構,可測試遠距離樣品, LAP-S800采用了大平臺,即使一體式使用也能滿足0.1米到10米的距離上正常測試。
先進的光路設計:
LAP-S800采用了夫瑯禾費衍射原理和典型的平行光路設計,配備了大功率的半導體激光器;獨特的高密度探測單元,讓LAP-S800擁有了超強的小顆粒測試能力,LAP-S800在0.1μm~800μm內無縫測試。同時LAP-S800又加入了光路自動調整裝置,方便操作的同時又延長了儀器的適用壽命。
大功率半導體激光器:
LAP-S800采用了大功率的半導體激光器,增強了儀器的分辨能力,使小顆粒也無處藏身。
光路自動校對:
LAP-S800在噴霧粒度儀中加入了自動對中功能,LAP-S800加入的光路自動調整系統,保證了儀器測量的穩定性、準確性。同時大量減少操作者的工作強度。
進口鏡頭:
LAP-S800采用了日本佳能作為主鏡頭,畸變小成像高,接收端采用了直徑150毫米大口徑長焦距鏡頭,顆粒探測更加精準。
超寬量程:
LAP-S800量程達到了0.1μm~800μm。
輔光定位:
LAP-S800獨創加入了輔光定位功能,定位時發射端兩束激光同時發出,接收端雙點吻合后接收端即可啟動光路自動調整系統,大大簡化了調整難度。
強大的分析軟件:
強大的分析軟件可以隨時記錄所有激光束的內所有霧滴的粒度分布。在激光束內移動噴霧測試結果可以被連續記錄和統計分析。
LAP-S800
主要技術參數:
規格型號 | LAP-S800 | |
執行標準 | ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008 | |
測試范圍 | 0.1μm-800μm | |
探測器通道數 | 66 | |
準確性誤差 | <1%(國家(jia)標準樣品D50值) | |
重復性誤差 | <1%(國家(jia)標準樣品D50值) | |
進樣方式 | 開放(fang)式進樣 | |
儀器結構 | 分體導(dao)軌式(導(dao)軌標配長(chang)(chang)度(du)3米,可根據需求(qiu)加長(chang)(chang)) | |
采樣頻率 | 4khz | |
激光器參數 | 進口光纖(xian)輸出大功(gong)率激光器 λ= 650nm, 功(gong)率1-40mw可調 | |
關鍵參數 | 測量區 | 0.1-3米標配,可根據需求加長(chang) |
鏡頭 | 佳能高(gao)性能鏡(jing)頭 | |
鏡頭保護 | 氣幕保護 | |
進樣方式 | 噴(pen)射(包(bao)含(han)霧滴和(he)固體粉末(mo)) | |
自動對中 | 儀器自動調整光路,電(dian)腦軟件一鍵(jian)自動完(wan)成。 | |
操作模式 | 電腦操作(zuo) | |
測試速度 | <1min/次 | |
重量 | 25Kg |
軟件功能 | |
測試報告 | 測試報告可導出Word、Excel、圖片(Bmp)和文本(Text)等多種形式(shi)的文檔,滿足在任何場合下查看測試報告以及科研(yan)文章中引用(yong)測試結果 |
自行DIY | 用戶自(zi)定(ding)義要顯(xian)示(shi)的(de)數據(ju)(ju),根(gen)據(ju)(ju)粒徑求百分比(bi)、根(gen)據(ju)(ju)百分比(bi)求粒徑或根(gen)據(ju)(ju) |
統計方式 | 體(ti)積分布(bu)(bu)和(he)數量分布(bu)(bu),以滿足不(bu)同(tong)行業(ye)對于粒度(du)分布(bu)(bu)的不(bu)同(tong)統(tong)計方式 |
統計比較 | 可針對(dui)多條測(ce)試(shi)(shi)結果(guo)進行統計比較(jiao)分(fen)析,可明(ming)顯對(dui)比不同(tong)批次樣品、加工(gong)前后樣品以及不同(tong)時間測(ce)試(shi)(shi)結果(guo)的差異,對(dui)工(gong)業原料質量控制具有很強的實際(ji)意義 |
分析模式 | 包(bao)括自由分(fen)布、R-R分(fen)布和對(dui)數正態(tai)分(fen)布、按目分(fen)級統計模式(shi)等,滿足不同(tong)行業對(dui)被測樣品粒度統計方(fang)式(shi)的不同(tong)要求 |
顯示模板 | 粒徑(jing)區(qu)間求百(bai)分比,以滿足不同行業對(dui)粒度測試的表征(zheng)方式(shi)。徑(jing)距、一致(zhi)性(xing)、區(qu)間累積等(deng)等(deng) |
智能操作模式 | 真(zhen)正全(quan)自動無人干預操作,無人為因素干擾,您只需按提示加入待測樣品即可,測試結(jie)果的重復性(xing)更好。 |
多語言支持 | 中英文語言界面支(zhi)持,還可(ke)根據用戶要(yao)求嵌入其(qi)他語言界面。 |