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LAP-NM10000納米激光粒度儀
產品分類
激光粒度儀
LAP-NM10000是我公司新推出的基于動態光散射原理的納米粒度儀。它采用高速數字相關器和專業的高性能光電倍增管作為核心器件，具有快速、高分辨率、重復及準確等特點。
訂(ding)購熱線：15220371918
LAP-NM10000是我公司推出的基于動態光散射原理的納米粒度儀。它采用高速數字相關器和專業的高性能光電倍增管作為核心器件，具有快速、高分辨率、重復及準確等特點，是納米顆粒粒度測定的首選產品。
光子相關納米粒度儀基本原理圖
主要性能特點：
先進的測試原理：本儀器采用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進、精度極高的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；是納米激顆粒粒度測定的首選儀器。
高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具有極高的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度；
極高的分辨能力和超強的運算功能：使用PCS技術測定納米級顆粒大小，必須能夠分辨納秒級信號起伏。本儀器的核心部件采用專用集成電路ASIC研制的高速光子相關器，具有識別6ns的極高分辨能力和極高的信號處理速度，可快速實時的采集光子數并計算相關運算，我測試尊確定奠定基礎。
穩定的光路系統：采用短波長LD泵浦激光光源和光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性。
高精度溫控系統：樣品池溫控系統和激光器溫控系統精度高達±0.1℃，使被測樣品和激光器光源在整個測試過程中都處于恒溫狀態，避免溫度變化對不測試結果的影響，確保測試準確和重復；
超強功能的分析軟件：分析軟件中反演算法采用國際標準推薦的累計量法以及目前比較通用的非負較小二乘法（NNLS）和Contin等多種算法，其測試結果與國際權威的同類產品具有很好的一致性；
測試精準并穩定：高性能的硬件和國際標準化的反演算法的完美結合，造就了LAP-NM10000測試結果的精準與重復，其測試準確度和重復性等指標均高于國際標準要求。
此款納米粒度儀已經達到國外納米粒度儀的測試水平！
（測試界面圖）
LAP-NM10000光相關納米粒度儀技術參數及詳細配置
測試報告：
光子相關納米粒度儀基本原理圖
主要性能特點：
先進的測試原理：本儀器采用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進、精度極高的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；是納米激顆粒粒度測定的首選儀器。
高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具有極高的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度；
極高的分辨能力和超強的運算功能：使用PCS技術測定納米級顆粒大小，必須能夠分辨納秒級信號起伏。本儀器的核心部件采用專用集成電路ASIC研制的高速光子相關器，具有識別6ns的極高分辨能力和極高的信號處理速度，可快速實時的采集光子數并計算相關運算，我測試尊確定奠定基礎。
穩定的光路系統：采用短波長LD泵浦激光光源和光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性。
高精度溫控系統：樣品池溫控系統和激光器溫控系統精度高達±0.1℃，使被測樣品和激光器光源在整個測試過程中都處于恒溫狀態，避免溫度變化對不測試結果的影響，確保測試準確和重復；
超強功能的分析軟件：分析軟件中反演算法采用國際標準推薦的累計量法以及目前比較通用的非負較小二乘法（NNLS）和Contin等多種算法，其測試結果與國際權威的同類產品具有很好的一致性；
測試精準并穩定：高性能的硬件和國際標準化的反演算法的完美結合，造就了LAP-NM10000測試結果的精準與重復，其測試準確度和重復性等指標均高于國際標準要求。
此款納米粒度儀已經達到國外納米粒度儀的測試水平！
（測試界面圖）
LAP-NM10000光相關納米粒度儀技術參數及詳細配置
| 規(gui)格型號(hao) | LAP-NM10000 |
| 執行標準 | GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008 |
| 測試范(fan)圍 | 1-10000nm(與樣品有關) |
| 濃度范圍 | 0.1mg/L-100mg/L |
| 準(zhun)確度誤差 | <1%（國家標準樣品(pin)平均(jun)粒(li)徑） |
| 重復性(xing)誤差 | <1%（國家標準樣品平(ping)均粒徑(jing)） |
| 激光 | λ=532nm，LD泵浦激光器（獨有帶溫控保護） |
| 探測器 | HAMAMATSU光電倍增管(guan)（PMT），使用單模(mo)保偏光纖 |
| 散射角(jiao) | 90° |
| 數字相關(guan)器 | ASIC研(yan)制的高速(su)光(guang)子相關器 |
| 樣品池 | 10mm*10mm , 4ml（帶溫控保護） |
| 數據處理 | 擬合累積(ji)分(fen)(fen)析法(fa)和(he)改進正規(gui)化算法(fa)，可給出平均粒徑(jing)及粒度分(fen)(fen)布曲線 |
| 軟件功能 | 一鍵式測(ce)(ce)量，自動優化測(ce)(ce)量參數(shu)，輕松生成測(ce)(ce)試報表 |
| 輸出項目 | 平均粒徑、多分散系數、粒度(du)分布曲(qu)線(xian)、粒度(du)分布表等(deng) |
| 溫度(du)范圍(wei) | 8-45℃（溫度精確到0.1℃） |
| 測(ce)試(shi)速度 | <1Min/次（不含樣品(pin)分散時間） |
| 儀器體積(ji) | 390mm×255mm×240mm |
| 電源 | AC100～260V, 50/60Hz, 較大功率80W |
| 使用(yong)環境 | 溫度(du)：15～40℃，濕(shi)度(du)20～70%。無冷凝(ning) |