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LAP-DW2000干濕一體智能全自動激光粒度分析儀
產品分類
激光粒度儀
LAP-DW2000是我公司傾力研發的新產品,自上市以來贏得了廣大客戶的一致好評。LAP-DW2000采用先進的Mie式散射原理和匯聚光傅立葉變換光路。
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LAP-DW2000是我公司傾力研發的新產品,自上市以來贏得了廣大客戶的一致好評。LAP-DW2000采用先進的Mie式散射原理和匯聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法,保證了測試結果的準確性和重復性。獨特的濕法循環分散系統,保證顆粒保證測試過程中無顆粒沉積現象,測試排水后無廢液積存現象,保證了第二次測試精度,使測試結果更真實可靠;干法分散采取了直線噴射分散方法,樣品經過高壓氣體分散后垂直向后飛行,避免了待測顆粒二次團簇,同時采取了管道無殘留設計,保證了測試不同樣品的準確性。優越的光路自動校對系統、干濕一鍵切換系統、干法電腦遠端控制喂料系統等精心設計彰顯出LAP-DW2000獨特優勢。
干濕法測試過程智能控制圖:
智能型濕法激光粒度分析儀控制系統原理圖
智能型干粉激光粒度分析儀控制系統原理圖
LAP-DW2000激光粒度分析儀主要性能特點:
★先進的光路設計:LAP-DW2000采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程,有效提高儀器的分辨能力;獨特的高密度探測單元,讓DW2000擁有了超強的小顆粒測試能力,高密度探測單元使用LAP-DW2000具有超強的全量程無縫測試能力。
★雙光路多鏡頭技術:LAP-DW2000高配版獨家采用了雙光路多鏡頭技術,此技術已達到國際先進水平,主光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器,輔光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器。
★干、濕一鍵切換:干濕切換將由儀器自動完成,全部過程10s內完成。
★主探測器Z向自動移動:干濕切換后因光學玻璃的介入會導致會聚光焦距變化,LAP-DW2000會根據干、濕法的不同自動調整主探測器,使主探測器始終在焦平面上。
★大口徑鏡頭:大口徑傅里葉變換鏡頭,更有效實現光信號傅里葉變換,更準確、更有效。
★防干燒超聲:DW2000實現了樣品池無水保護,避免損壞超聲;同時超聲功率在0到50瓦范圍內可調。
★防塵、防震設計:儀器整體進行了密封設計,大幅提高了內部元器件使用壽命。獨特的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾,使結果測試更穩定可靠。
★強防腐設計(選配):根據客戶實際需求可以配備耐酸、耐堿、耐油(含一切溶劑油)、耐有機溶劑(像丙酮、苯酚、正己烷等一切有機溶劑)。
★進口光纖半導體激光器:LAP-DW2000采用了高穩定、長壽命的進口大功率光纖輸出半導體激光器,優良的單色性及穩定性讓LAP-DW2000擁有了超強的測試重復性。
★光路X、Y向自動校對:因樣品窗更換引起的光路微變,儀器可以自行對光路進行調節。
★獨特微量循環系統:整個分散循環系統進行了優化設計,分散介質大于150毫升即可循環測試,真正達到了微量循環測試;所有接頭采用了速插快擰設計,短時間內即可更換全部管道;優化的設計保證排水后無廢夜殘留,保證了下一次測試結果的準確性。
★超寬量程:LAP-DW2000量程干法達到了0.1μm~2000μm、濕法0.01μm~2000μm。
★免排氣泡設計:全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗,避免了氣泡干擾。
★樣品無殘留設計:儀器管道及排水結構進行了優化設計,儀器管道、循環泵內無積液殘留,避免對下一次測試數據的影響;干法測試同樣進行了無殘留設計。
★干法計算機遠程控制喂料:LAP-DW2000干法測試時測試人員可通過電腦遠端控制喂料速度,大大減少了測試人員的勞動強度。
★樣品窗快換裝置:全新設計的樣品窗快換裝置,使樣品窗更換更方便快捷。
軟件:符合藥典GMP規定,具有電子簽名、權限設置、數據追蹤、數據不可更改等功能。
對于制藥行業客戶,可以提供3Q認證。
測試界面
光路自動對中功能圖
主要技術參數:
測試報告:
干濕法測試過程智能控制圖:
智能型濕法激光粒度分析儀控制系統原理圖
智能型干粉激光粒度分析儀控制系統原理圖
LAP-DW2000激光粒度分析儀主要性能特點:
★先進的光路設計:LAP-DW2000采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程,有效提高儀器的分辨能力;獨特的高密度探測單元,讓DW2000擁有了超強的小顆粒測試能力,高密度探測單元使用LAP-DW2000具有超強的全量程無縫測試能力。
★雙光路多鏡頭技術:LAP-DW2000高配版獨家采用了雙光路多鏡頭技術,此技術已達到國際先進水平,主光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器,輔光采用高穩定、長壽命的進口光纖半導體激光器。
★干、濕一鍵切換:干濕切換將由儀器自動完成,全部過程10s內完成。
★主探測器Z向自動移動:干濕切換后因光學玻璃的介入會導致會聚光焦距變化,LAP-DW2000會根據干、濕法的不同自動調整主探測器,使主探測器始終在焦平面上。
★大口徑鏡頭:大口徑傅里葉變換鏡頭,更有效實現光信號傅里葉變換,更準確、更有效。
★防干燒超聲:DW2000實現了樣品池無水保護,避免損壞超聲;同時超聲功率在0到50瓦范圍內可調。
★防塵、防震設計:儀器整體進行了密封設計,大幅提高了內部元器件使用壽命。獨特的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾,使結果測試更穩定可靠。
★強防腐設計(選配):根據客戶實際需求可以配備耐酸、耐堿、耐油(含一切溶劑油)、耐有機溶劑(像丙酮、苯酚、正己烷等一切有機溶劑)。
★進口光纖半導體激光器:LAP-DW2000采用了高穩定、長壽命的進口大功率光纖輸出半導體激光器,優良的單色性及穩定性讓LAP-DW2000擁有了超強的測試重復性。
★光路X、Y向自動校對:因樣品窗更換引起的光路微變,儀器可以自行對光路進行調節。
★獨特微量循環系統:整個分散循環系統進行了優化設計,分散介質大于150毫升即可循環測試,真正達到了微量循環測試;所有接頭采用了速插快擰設計,短時間內即可更換全部管道;優化的設計保證排水后無廢夜殘留,保證了下一次測試結果的準確性。
★超寬量程:LAP-DW2000量程干法達到了0.1μm~2000μm、濕法0.01μm~2000μm。
★免排氣泡設計:全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗,避免了氣泡干擾。
★樣品無殘留設計:儀器管道及排水結構進行了優化設計,儀器管道、循環泵內無積液殘留,避免對下一次測試數據的影響;干法測試同樣進行了無殘留設計。
★干法計算機遠程控制喂料:LAP-DW2000干法測試時測試人員可通過電腦遠端控制喂料速度,大大減少了測試人員的勞動強度。
★樣品窗快換裝置:全新設計的樣品窗快換裝置,使樣品窗更換更方便快捷。
軟件:符合藥典GMP規定,具有電子簽名、權限設置、數據追蹤、數據不可更改等功能。
對于制藥行業客戶,可以提供3Q認證。
測試界面
光路自動對中功能圖
主要技術參數:
規格型號 | LAP-DW2000 | ||
執行標準 | ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008 | ||
測試范圍 | 濕法0.01μm -2000μm | 干法0.1μm -2000μm | |
探測器通道數 | 濕法121 | 干(gan)法109 | |
準確性誤差 | 干法(fa):<1%,濕法(fa):<1%(國家標準樣品D50值) | ||
重復性誤差 | 干法(fa):<1%,濕法(fa):<0.5%(國家標準樣品D50值(zhi)) | ||
免排氣泡 | 具備免排氣泡(pao)設計(ji),無氣泡(pao)干擾數據更準確 | ||
誤操作保護 | 儀器具(ju)備誤(wu)操作(zuo)(zuo)自我保護功能(neng),儀器對誤(wu)操作(zuo)(zuo)不響應(ying) | ||
激光器參數 | 雙光(guang)束,進口光(guang)纖輸出大功率(lv)半導體激光(guang)器(qi) λ= 650nm, p>10mW | ||
鏡頭 | 進口佳能(neng)鏡(jing)頭 | ||
智能操作模式 | 干(gan)、濕法(fa)測試(shi)均實現軟件一鍵式全自動操作 | ||
干濕法切換 | 軟件一鍵(jian)式自動切換,無需手動操作 | ||
遮光度探測 | 儀器(qi)具(ju)備獨有的遮(zhe)光度實時探測功能,保證樣品加入量更準確 | ||
光路對中 | 光路自動(dong)對中 | ||
內置分散方法 | 超聲 | 頻率(lv):f=40KHz,功率(lv):p=80W,時(shi)間:隨意可(ke)調;具備超聲防干燒 | |
攪拌 | 循環(huan)攪(jiao)拌一(yi)體(ti)化設(she)計,轉(zhuan)速:100-33950rpm轉(zhuan)速可調 | ||
循環 | 循環(huan)額(e)定流量:0-10L/min可調 額(e)定功(gong)率:25W | ||
樣品池 | 自行設計(ji)沸騰(teng)式樣(yang)品池,分散效果更好(hao),容量:190-600mL均可正(zheng)常測試 | ||
微量進樣 | 儀(yi)器可選配微(wei)量全自動(dong)測試裝置,10毫升即(ji)可循(xun)環測試(選配) | ||
干法分散 | 分散方式 | 高壓(ya)空氣分(fen)散 | |
喂料方式 | 機械無(wu)級調速振動喂(wei)料,軟件控制 | ||
無油靜音空壓機 | 具有粉塵(chen)過濾功能,保(bao)證(zheng)測試準確(que)性 | ||
冷干機 | 冷凍式干燥機可過(guo)濾空氣中(zhong)的水分(fen)(fen),保證分(fen)(fen)散效果(guo) | ||
測試速度 | <1min/次(不含樣品分散時(shi)間) | ||
軟件功能 | |
測試報告 | 測(ce)(ce)試(shi)報告可導(dao)出Word、Excel、圖片(Bmp)和文(wen)本(Text)等多種形式的文(wen)檔,滿(man)足(zu)在任何場合下查看測(ce)(ce)試(shi)報告以(yi)及科研文(wen)章中引用測(ce)(ce)試(shi)結(jie)果 |
自行DIY | 用戶自定(ding)義(yi)要(yao)顯示的數(shu)據(ju),根據(ju)粒徑(jing)求百分比、根據(ju)百分比求粒徑(jing)或根據(ju) |
統計方式 | 體積分(fen)布(bu)和數量分(fen)布(bu),以滿足不同行業對于粒度分(fen)布(bu)的不同統計方式 |
統計比較 | 可針對(dui)多(duo)條測(ce)試結(jie)果進行統(tong)計比較分析,可明(ming)顯對(dui)比不同批次樣品(pin)、加(jia)工前(qian)后樣品(pin)以及(ji)不同時間測(ce)試結(jie)果的差(cha)異,對(dui)工業原料質(zhi)量控制具有很強的實際(ji)意(yi)義 |
分析模式 | 包括自由分(fen)(fen)布(bu)、R-R分(fen)(fen)布(bu)和對(dui)數正(zheng)態(tai)分(fen)(fen)布(bu)、按目分(fen)(fen)級統(tong)計模式等,滿足不(bu)同(tong)行業(ye)對(dui)被測樣品粒度統(tong)計方(fang)式的不(bu)同(tong)要求 |
顯示模板 | 粒徑(jing)區(qu)間(jian)求百分比,以滿(man)足不同行業對(dui)粒度測試的表征方式。徑(jing)距、一致性、區(qu)間(jian)累(lei)積等等 |
智能操作模式 | 真正全自(zi)動(dong)無(wu)人干(gan)預操作,無(wu)人為因素干(gan)擾,您只需按提示(shi)加入待(dai)測(ce)樣(yang)品即可,測(ce)試結果的重(zhong)復性更好。 |
多語言支持 | 中英文語(yu)言界(jie)面支持(chi),還可根據用戶要求嵌入其他語(yu)言界(jie)面。 |